HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来。

HIOKI 3532-50 LCR测试仪的基本参数

测量参数 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q

测量方法 测量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒压10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz)

检测：电压，AC

测量频率 42Hz～5MHz

测量量程 │Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定)

θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF

L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999

Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S

基本精度 │Z│: ±0.08% rdg.，θ: ±0.05°

测量时间

│Z│的典型值 快速：5ms～ 慢速2：140ms

显示 大显示值99999，LCD背光功能

比较器功能 设定：上、下限值，百分比或值 输出：3档（高，中，低），开路集电极，绝缘

外部打印 9442 （与9443/9446/9593-01同时使用）

电源供应 100～240V AC 50/60Hz

体积及重量 352宽×124高×323厚mm，6.5kg